Product Overview

루켄테크놀러지스에서는 HBM 테스트 프로브, OLED 프로브 유닛, HBM KGS 마이크로 범프 프로브 헤드, IC 테스트 소켓, WLCSP 프로브 카드와 같은 다양한 인터페이스 테스트 관련 제품을 제공하며 가장 큰 장점으로는 극미세 피치 디바이스를 어떠한 신호의 왜곡 없이 완벽하게 성능 검사를 수행할 수 있는 최고 품질의 테스트 솔루션을 제공한다는 것입니다. 루켄테크놀러지스의 더 많은 제품군과 서비스를 확인하실 수 있습니다.



  • M-POGO Pin

    루켄은 MEMS 공정으로 65마이크로 Pitch
    제품의 생산이 가능하고…

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  • M-POGO Test Socket

    5G, 자율주행, Iot, AI, VR 등 4차 산업분야의 기술 발달로 반도체 Device의 고집적, 주파수 고속화...

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  • M-POGO Vertical Probe Card

    루켄의 프로브 카드는 MEMS기술에 Design혁신을
    통해 개발된 M-POGO Vertical Probe Card로서…

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  • Test Interface Unit

    고집적, 초고속 신호 전송의 PCB 설계 기술로 High Speed, Low Noise, Stable signal transmission 확보…

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  • OLED Probe Unit

    FPD(WOLED, RGB-OLED, Micro-OLED) 제조공정 중 Cell /Module 최종 검사단계에서…

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  • OLED Inspection Equipment

    Contact 검사 장비의 Design / Algorithm
    / 소재, 부품 수직 계열화의…

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