FPD(WOLED, RGB-OLED, Micro-OLED) 제조공정 중 Cell /Module 최종 검사단계에서 Panel의 Source / Gate 전극에 Probe를 일괄 Contact 후 전기적 신호를 인가하여 화소의 점등결함(정형계, 얼룩계, 특성계)을 검사하는 장치
Pitch | ≥ 20μm |
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Contact Resistance | <0.1Ω |
Height | 5μm ~ 6μm |
Probe Material | Ni-Co |
Delivery |
New : 3 Weeks Repeat : 2 Weeks |
Pitch | ≥ 30μm |
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Contact Resistance | <0.1Ω |
Probe Thickness | 고객사양맞춤 |
Probe Material | Ni-Co + Au |
Delivery |
New : 3 Weeks Repeat : 2 Weeks |
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